我们的自有设备,可进行包括热冲击、机械、湿度和键合等多种测试。

罗彻斯特电子在压力测试方面拥有丰富的专业知识和经验,能够帮助客户快速识别潜在的失效机理、确定根本原因,并采取措施来预防失效模式。

  • MIL-STD-883 TM 50045005,适用于BQV
  • 基于MIL-PRF-38535 CAGE code (3V146) QML认证
  • DLA实验室认证,适用于ABCD
  • 符合JEDEC标准的可靠性测试
罗彻斯特电子的品质承诺
 

能力

A组

  • 电气测试

C组

  • 寿命测试

 B组

  • 溶剂/盖印耐久性
  • 可焊性
  • 键合拉力(破坏性&非破坏性)
  • 键合推力、晶片推力、焊球推力

 D组

  • 物理尺寸
  • 弯曲应力与引线牢固性
  • 机械和热冲击
  • 温度循环
  • 防潮性
  • 变频震动

JEDEC

  • 预处理
  • 温度循环
  • HAST/UHAST
  • HTSL

 

  • 离心测试
  • 密封性测试(条件A、C)
  • 盐雾测试
  • 引脚镀层附着性
  • 封盖扭矩
  • 外观检测

可焊性测试

  • 润湿平衡法
  • 浸入观察法
生产服务手册